Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi
ÇOBİLTUM - Bilim ve Teknoloji Uygulama ve Araştırma Merkezi

İleri Teknolojik Malzeme

 

 

X-RD

PANalytical Empyrean


 

resim653336

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınları karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi (sıvı, toz, kristal ve ince film halindeki) analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristalin malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.


BET Yüzey Alanı Ölçüm Cihazı

Quantachrome Quadrasorb SI


 

resim554185



Bu cihaz ile brunauer, Emmet ve Teller ( BET ) methoduyla 77K'deki sıvı azot ortamında, azot (N2) gazı adsorpsiyonu tekniğine dayalı olarak yüzey alanı ve gözeneklilik ölçümü yapılmaktadır.
BET cihazı ile seramik, adsorbent, aktif karbon, katalistler, boya ve kaplama ürünleri, implantlar, jeolojik numuneler, elektronik ve kozmetik sektörlerinden gelen örnekler analiz edilebilmektedir.
Analiz sonuçlarında tek ve çok noktalı BET yüzey alanı, toplam gözenek hacmi BJH gözenek boyutu dağılımı değerleri verilmektedir.